SD-OCT 的 roll-off
从哪来、怎么读曲线

SD-OCT 把深度信息编码在光谱干涉条纹的频率里：样品中某一层越深，它与参考臂的光程差越大，对应的干涉条纹在光谱上就振荡得越密。 FFT 之后，条纹频率换算回深度——这是光谱域方案一次曝光解算整条 A-scan 的基础。

问题出在「读出光谱」这一步。光谱仪不是理想的采样器，它对条纹做了两次低通：

其一，有限的光谱分辨率。光栅与成像光学把每个波长成像为一个有限宽度的光斑（光学点扩散函数），相邻波长的能量会弥散到同一像素上。条纹越密（即深度越深），这种弥散造成的「抹平」越严重，条纹对比度随之下降——这一项通常近似为深度方向的高斯衰减包络。

其二，像素的有限宽度。每个像素输出的是其感光面上光强的积分，相当于对光谱做了一次矩形窗平均。矩形窗的傅里叶变换是 sinc 函数，于是深度方向又叠加了一层 sinc 形衰减。

两项相乘，就是您在数据手册上看到的那条 roll-off 曲线：浅处平坦、深处加速下降。像素间电学串扰、光谱标定残差等次要因素会让实测曲线略差于理论值，但主导项始终是上面这两个——它们由光谱仪的光学设计决定，出厂后不会改变，这也是为什么 roll-off 值得逐台实测、写进出厂报告。

roll-off 的标准口径是 「某深度处相对零光程差位置的衰减量」，单位 dB@depth——例如我们 835 nm 典型配置的口径是「1.5 mm 处衰减 < 6 dB（典型）」。一条曲线值得看三个点：近零深度的起始灵敏度、-6 dB 对应的深度、量程末端（约 3 mm 处）的残余灵敏度。

对比不同厂商给出的曲线时，先核对测试条件，否则数字没有可比性：

选型时把它当成一笔「深度预算」来算：先确定样品中您真正关心的最深一层在哪里，再检查那一深度处的衰减是否还在信噪余量之内。如果有效信息集中在前 1.5 mm，重点看曲线前半程是否平坦；如果要用满约 3 mm 量程，重点看末端衰减叠加样品自身散射衰减后是否仍可用。

还要记住：规格表里的「灵敏度」是零深度附近的单点值，roll-off 是整条曲线——两者要放在一起读。一台起始灵敏度高但衰减快的系统，在深处可能不如一台起始略低但曲线平坦的系统。

我们的做法：roll-off 曲线逐台实测、随出厂测试报告交付，网页与样本给出的是典型值口径（835 nm 典型配置：量程 ~3 mm，1.5 mm 处衰减 < 6 dB），您拿到的是这台机器的真实曲线，可直接用于论文方法学章节或方案评审。